知識產(chǎn)權(quán)統(tǒng)計數(shù)據(jù)公開查詢指引（2024版）
為進一步方便群眾查詢使用知識產(chǎn)權(quán)公開統(tǒng)計數(shù)據(jù)，我局對知識產(chǎn)權(quán)公開統(tǒng)計資料和查詢方式進行梳理匯總并編寫形成2024版查詢指引。本指引更新至截至2023年度的知識產(chǎn)權(quán)主要統(tǒng)計數(shù)據(jù)。一、月度數(shù)據(jù)
我局按月發(fā)布《國家知識產(chǎn)權(quán)局審查注冊登記統(tǒng)計月報》，包括專利授權(quán)、商標注冊、地理標志批準保護、集成電路布圖設(shè)計發(fā)證月度統(tǒng)計數(shù)據(jù)?？刹樵儍?nèi)容見表1。查詢方式：可訪問國家知識產(chǎn)權(quán)局門戶網(wǎng)站（www.cnipa.gov.cn）“數(shù)據(jù)”->“統(tǒng)計報告查詢”->“國家知識產(chǎn)權(quán)局審查注冊登記統(tǒng)計月報”欄目查詢。網(wǎng)址：https://www.cnipa.gov.cn/col/col61/。
表1 按月度公開主要統(tǒng)計資料內(nèi)容
1.《國家知識產(chǎn)權(quán)局年報》中附錄統(tǒng)計資料，可訪問國家知識產(chǎn)權(quán)局門戶網(wǎng)站“政務(wù)”->“政策文件”->“年度報告”欄目下載，可查詢內(nèi)容見表2。網(wǎng)址：https://www.cnipa.gov.cn/col/col94/。表2 《國家知識產(chǎn)權(quán)局年報》附錄統(tǒng)計資料內(nèi)容2.《知識產(chǎn)權(quán)統(tǒng)計年報》：目前可查詢1985年以來的所有年度數(shù)據(jù)（商標為2019年以來統(tǒng)計數(shù)據(jù)），可查詢內(nèi)容見表3。查詢方式：可訪問國家知識產(chǎn)權(quán)局門戶網(wǎng)站“數(shù)據(jù)”->“統(tǒng)計報告查詢”->選擇年份查詢。網(wǎng)址：https://www.cnipa.gov.cn/col/col61/。表3 《知識產(chǎn)權(quán)統(tǒng)計年報》公開統(tǒng)計資料內(nèi)容3.《中國統(tǒng)計年鑒》，可在國家統(tǒng)計局門戶網(wǎng)站“統(tǒng)計數(shù)據(jù)”->“中國統(tǒng)計年鑒”欄目查詢。網(wǎng)址：http://www.stats.gov.cn/tjsj/ndsj/。表4 《中國統(tǒng)計年鑒》公開的知識產(chǎn)權(quán)統(tǒng)計資料內(nèi)容4.半年度及年度知識產(chǎn)權(quán)主要統(tǒng)計數(shù)據(jù)也將通過國家知識產(chǎn)權(quán)局新聞發(fā)布會對社會公開，文字直播內(nèi)容可通過國家知識產(chǎn)權(quán)局門戶網(wǎng)“新聞”->“新聞發(fā)布”欄目收看和查詢。三、統(tǒng)計調(diào)查、五局報告等專題數(shù)據(jù)1.《中國專利調(diào)查報告》等專題統(tǒng)計調(diào)查報告。專利產(chǎn)業(yè)化率等專題調(diào)查數(shù)據(jù)及報告可通過國家知識產(chǎn)權(quán)局門戶網(wǎng)站“數(shù)據(jù)”->“統(tǒng)計分析成果”欄目查詢。網(wǎng)址：https://www.cnipa.gov.cn/col/col88/。2.《世界五大知識產(chǎn)權(quán)局年度統(tǒng)計報告》，可通過國家知識產(chǎn)權(quán)局門戶網(wǎng)站“數(shù)據(jù)”->“世界五大知識產(chǎn)權(quán)局年度統(tǒng)計報告”欄目查詢。網(wǎng)址：https://www.cnipa.gov.cn/col/col90/。四、歷史統(tǒng)計數(shù)據(jù)匯總為更加便利查詢和使用連續(xù)數(shù)據(jù)，我局按專利、商標、地理標志、集成電路布圖設(shè)計等主要指標開展了年度數(shù)據(jù)梳理并整理形成歷史統(tǒng)計數(shù)據(jù)表，公眾可按照需要查詢獲取歷史連續(xù)數(shù)據(jù)?？牲c擊文末閱讀原文鏈接訪問對應(yīng)數(shù)據(jù)表，也可點擊文末閱讀原文鏈接下載全部匯總統(tǒng)計資料：1-1 分國內(nèi)外三種專利申請量統(tǒng)計表1-2 分地區(qū)國內(nèi)發(fā)明專利申請量統(tǒng)計表1-3 分地區(qū)國內(nèi)實用新型專利申請量統(tǒng)計表1-4 分地區(qū)國內(nèi)外觀設(shè)計專利申請量統(tǒng)計表1-5 分國別（地區(qū)）國外在華發(fā)明專利申請量統(tǒng)計表1-6 分國別（地區(qū)）國外在華實用新型專利申請量統(tǒng)計表1-7 分國別（地區(qū)）國外在華外觀設(shè)計專利申請量統(tǒng)計表2.專利授權(quán)狀況(1985-2023年)2-1 分國內(nèi)外三種專利授權(quán)量統(tǒng)計表2-2 分地區(qū)國內(nèi)發(fā)明專利授權(quán)量統(tǒng)計表2-3 分地區(qū)國內(nèi)實用新型專利授權(quán)量統(tǒng)計表2-4 分地區(qū)國內(nèi)外觀設(shè)計專利授權(quán)量統(tǒng)計表2-5 分國別（地區(qū)）國外在華發(fā)明專利授權(quán)量統(tǒng)計表2-6 分國別（地區(qū)）國外在華實用新型專利授權(quán)量統(tǒng)計表2-7 分國別（地區(qū)）國外在華外觀設(shè)計專利授權(quán)量統(tǒng)計表3-1 分國內(nèi)外三種專利有效量統(tǒng)計表3-2 分地區(qū)國內(nèi)發(fā)明專利有效量統(tǒng)計表3-3 分地區(qū)國內(nèi)實用新型專利有效量統(tǒng)計表3-4 分地區(qū)國內(nèi)外觀設(shè)計專利有效量統(tǒng)計表3-5 分國別（地區(qū)）國外在華發(fā)明專利有效量統(tǒng)計表3-6 分國別（地區(qū)）國外在華實用新型專利有效量統(tǒng)計表3-7 分國別（地區(qū)）國外在華外觀設(shè)計專利有效量統(tǒng)計表4-1 2011-2023年分地區(qū)PCT國際專利申請受理量統(tǒng)計表5-1 1979-2023年商標申請、注冊及有效注冊狀況統(tǒng)計表5-2 2017-2023年分地區(qū)國內(nèi)商標申請量統(tǒng)計表5-3 2017-2023年分國別（地區(qū)）國外在華商標申請量統(tǒng)計表5-4 2017-2023年分地區(qū)國內(nèi)商標注冊量統(tǒng)計表5-5 2017-2023年分國別（地區(qū)）國外在華商標注冊量統(tǒng)計表5-6 2017-2023年分地區(qū)國內(nèi)商標年末有效注冊量統(tǒng)計表5-7 2017-2023年分國別（地區(qū)）國外在華商標年末有效注冊量統(tǒng)計表5-8 2019-2023年分地區(qū)馬德里商標國際注冊申請量統(tǒng)計表5-9 2015-2023年商標異議評審業(yè)務(wù)統(tǒng)計表6-1 2017-2023年分地區(qū)地理標志產(chǎn)品累計批準量統(tǒng)計表6-2 2017-2023年分地區(qū)地理標志作為集體商標、證明商標注冊累計注冊量統(tǒng)計表7.集成電路布圖設(shè)計申請、發(fā)證狀況7-1 2001-2023年國內(nèi)外集成電路布圖設(shè)計登記申請、發(fā)證狀況統(tǒng)計表7-2 2015-2023年分地區(qū)集成電路布圖設(shè)計登記申請量統(tǒng)計7-3 2015-2023年分地區(qū)集成電路布圖設(shè)計登記發(fā)證量統(tǒng)計表
2024-12-04
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